霍爾樣品在弱場條件下進行變溫霍爾系數(shù)和電導率的測量

來源：北京中慧天誠科技有限公司 2025年06月17日 22:08

霍爾效應的測量是研究半導體性質(zhì)的實驗法。利用霍爾系數(shù)和電導率的測量，用來確定半導體的導電類型和載流子濃度。通過測量霍爾系數(shù)與電導率隨溫度的變化，確定半導體的禁帶寬度、雜質(zhì)電離能及遷移率的溫度系數(shù)等基本參數(shù)。

本儀器是利用電子和計算機數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，對霍爾樣品在弱場條件下進行變溫霍爾系數(shù)和電導率的測量，來確定半導體材料的性質(zhì)。

變溫霍爾效應實驗儀是由電磁鐵、可自動換向穩(wěn)流源、恒溫器、測溫控溫系統(tǒng)、數(shù)據(jù)采集及數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)等組成。

產(chǎn)品特點：

1.可用范德堡法測量和標準法測量樣品；

2.可手動測量和自動測量；

3.電流自動換向、磁測自動換向，電導和霍爾自動換向；

4.R1和R2自動測量。

規(guī)格參數(shù)：

電磁鐵：0-400mT可調(diào)

勵磁電源：0-6A可調(diào)，可自動換向

穩(wěn)定性：＜±0.1%

數(shù)字特斯拉計：0-2000mT，四位半數(shù)字顯示

恒流源輸出：1μA-200mA連續(xù)可調(diào)

穩(wěn)定性：±0.1%

數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)霍爾電壓測量范圍：0-2000mV

數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)霍爾電壓分辨率：1uV

測溫范圍：77-450K

功率范圍：200W

供電電源：AC 220V，50Hz

變溫霍爾效應測量儀

型號：MLHT-658

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