泰勒霍普森粗糙度儀 S116 便攜式技術規格與應用解析

一、結構設計與工業適應性

二、精密測量性能參數

1. 傳感器系統
   采用差動電感式位移傳感器，搭配金剛石測針（標準針尖半徑 5μm，可選 2μm/10μm 規格），遵循 ISO 3274 標準的觸針式測量原理。測針垂直分辨率達5nm，線性度誤差≤±0.1% FS，滿足 ISO 4287:2017 標準對 Ra 參數的計量級測量要求。
2. 測量范圍與精度

• 示值誤差：±(2%× 測量值 + 0.004μm)（符合 JJG 779-2015《觸針式表面粗糙度測量儀》檢定規程）

• 重復性誤差：≤1.5%（基于 Ra≥0.2μm 標準樣塊測試）

• 粗糙度參數范圍：Ra（算術平均粗糙度）0.005μm~200μm，Rz（十點高度粗糙度）0.02μm~800μm（需切換評估標準）

• 計量精度：

• 測量行程：0.25mm~25.5mm（連續可調），支持橫向 / 縱向多路徑掃描，適配 ISO 11562 標準的濾波算法（2CR / 高斯濾波可選）。

3. 深度測量模塊
   集成50mm 行程電動升降裝置與直角測量附件，具備70mm 垂直深度測量能力，可直接對盲孔、溝槽底部（最小孔徑≥12mm）進行無損檢測，無需輔助工裝夾具，滿足 ASME B46.1 標準對復雜幾何特征的測量要求。