菲希爾鍍層測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL210信息

來源：無錫駿展儀器有限責任公司 2025年03月13日 21:13

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率，這樣就可以進行高精度測量。由于采用了Fischer 基本參數(shù)法，無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品，都能在沒有標準片的情況下進行分析

和測量。多可同時測量從氯(17)到鈾(92)中的24 種元素。

XDL 型X 射線光譜儀有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準儀器。

菲希爾X射線測厚儀XDL 系列儀器特別適用于客戶經(jīng)行質(zhì)量控制、進料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控。

菲希爾代理FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：

? 測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件

? 測量薄鍍層，例如裝飾鉻

? 測量電子工業(yè)或半導體工業(yè)中的功能性鍍層

? 全自動測量，如測量印刷線路板

? 分析電鍍?nèi)芤?/p>

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