X射線熒光光譜儀教程

來(lái)源：蘇州福佰特儀器科技有限公司 2025年02月10日 17:19

化學(xué)成分分析的方法主要有化學(xué)分析，物理分析。其中物理分析越來(lái)越受到研究者的關(guān)注，其具有幾個(gè)特點(diǎn)：

1.不破壞樣品成分，

2.絕大部分的物理分析的區(qū)域很小

3.儀表面分析方法為主

4.分析速度快，靈敏度高。常見的物理分析方法包括X射線熒光光譜（XRF）等離子發(fā)射光譜（ICP）原子吸收光譜（AAS）原子熒光光譜法（AFS）和電子探針分析（EPMA）

XRF分析測(cè)試技術(shù)已經(jīng)在地質(zhì)，冶金，電子機(jī)械，石油，航空航天材料，生物，生態(tài)環(huán)境等領(lǐng)域廣泛應(yīng)用。

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