EDXThick800是一款全新上照式多功能自動微區X熒光膜厚測試儀,既滿足原有微小和復雜形態樣品的膜厚檢測功能,又可滿足有害元素檢測及輕元素成分分析;搭載自動化的X/Y/Z軸的三維系統、雙激光定位和保護系統,可多點位編程測試,被廣泛應用于各類產品的質量管控、來料檢驗和對生產工藝控制的測量。

儀器配置01 獨立的X/Y/Z軸控制系統02 微焦斑X光管 03 可變高壓電源04 防撞板外加防撞激光保護檢測器對儀器進行雙重安全保護05 Fast-SDD探測器06 雙激光定位裝置07 標配可自動切換的準直孔和濾光片軟件優勢1、清晰化操作界面布局簡約的布局設計,讓操作員快速的掌握軟件基本操作。2、快捷鍵按鈕設計增加了日常鍍層測量快捷鍵設計按鈕,可快速檢測,提升工作效率。3、高清可視化窗口可清晰直觀的觀測到被檢測樣品的狀態,通過自動對焦、移動快捷鍵,調節到用戶的觀測效果。4、多通道數字譜圖界面清晰化呈現被檢樣品的元素譜圖,配合先進的解譜技術,便可精準計算出結果。5、測試結果匯總布局設計可快速查找當前測試數據,并可對測試數據進行報告生成,且快速查詢以往測試數據。應用行業航天新能源 電子通訊 電鍍行業高校及科研院 貴金屬鍍飾 磁性材料