正置明暗場透反射金相顯微鏡是一種多用途工業檢驗用光學儀器，配置明/暗場物鏡、大視野目鏡與偏光觀察裝置，透反射照明采用“柯勒”照明系統，景深大，視場清晰。可用于半導體硅晶片、LCD基板、電路板、固體粉未及其它各種透明或不透明工業試樣檢驗，是生物學、金屬學、礦物學、精密工程學、電子工程學研究的理想儀器。
系統簡介
本系統是將傳統的光學顯微鏡與計算機(數碼相機)通過光電轉換有機的結合在一起，不僅可以在目鏡上作顯微觀察，還能在計算機(數碼相機)顯示屏幕上觀察實時動態圖像，并能將所需要的圖片進行編輯、保存和打印。
研究型正置金相顯微鏡，采用無限遠聚光系統。
技術參數：
1.目鏡

2.物鏡

3.光學放大倍數：50X—1600X   系統參考放大倍數：50X—2600X；
4.濾色片組：黃色、藍色、綠色、磨砂玻璃；
5.偏光裝置：可插入式起偏振片和三目頭內置檢偏振片；
6.載物臺：（配有快速移動裝置）尺寸：210×140mm，移動范圍：75×50mm[標配]；
7.粗微同軸調焦機構，微動手輪格值：0.002mm；
8.反射照明器：12V/50W鹵素燈，亮度可調。內置視場光闌、孔徑光闌、濾色片轉換裝置，推拉式檢偏器與起偏器；透射照明器：集光器，鹵素燈照明適用(內置視場光欄)12V/30W鹵素燈,亮度可調。
系統組成：
電腦型(1000E): 1.金相顯微鏡 2.適配鏡 3.高清數字攝像機 4.數據線5.計算機（選購）
數碼相機型(1000D): 1.金相顯微鏡 2.適配鏡 3.數碼相機
選購件：
1.高像素成像系統
2.金相顯微鏡分析軟件

XLJXB-D讀數顯微鏡

讀數顯微鏡是光學計量儀器之一，它的結構簡單，操作方便，應用范圍很廣，其主要用途如下：
作長度測定。如定孔距。基面距離刻線距離、刻線寬度以及通孔外圓的直徑等。
擴大一般顯微鏡使用范圍，可在不同方向上測量。
作觀察顯微鏡，可判別礦石標本，檢查印刷照像底板。由于測量架能脫 開底座，可固定在機床上直接對加工零件進行檢查。所以該儀器廣泛應 用在機械、冶金、光學、科研等單位的檢查室、實驗室。
技術規格：
光學系統性能

測量裝置規格：
測量范圍： 0~50mm；
測微鼓格值： 0.01mm；
測量精度： 0.015mm；
儀器主要尺寸
測量臺與物鏡間*大距離 ：3X不小于150mm 8X不小于130mm；
儀器外型尺寸：227×178×252mm；
儀器凈重：5.5Kg