eLiPMS-2000Plus粉體電阻率測(cè)試系統(tǒng)是一種用于測(cè)量不同壓力下粉末材料的電阻率、電導(dǎo)率、厚度、密度等參數(shù)的高

精度儀器。它是在日本三菱化學(xué)分析技術(shù)之MCP‐PD51的基礎(chǔ)上進(jìn)行改善完成的，具有以下功能：

內(nèi)置的精密四探針探頭模腔組件和荷重傳感器單元，可以施加最大30KN的壓力，約95MPa，在壓力范圍內(nèi)可設(shè)置任意壓力點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試分析。一鍵啟動(dòng)，自動(dòng)進(jìn)行加壓、測(cè)試、釋放。

簡(jiǎn)易操作軟件界面，可設(shè)置不同壓力點(diǎn)和保壓時(shí)間，自動(dòng)測(cè)量壓實(shí)下粉末的電阻、電阻率、電導(dǎo)率、厚度、壓強(qiáng)、顆粒壓實(shí)密度特性等參數(shù)。測(cè)試報(bào)告自動(dòng)生成，可輸出任兩種參量之關(guān)系曲線。

系統(tǒng)通過(guò)與三菱化學(xué)Loresta-GX (MCP-T700)高精度四探針儀連接，可測(cè)試寬范圍之粉體阻抗特征。電阻測(cè)試范圍為0.00110-4~9.999107 Ω；電阻率=ΩRCFt（RCF為糾正因子，t為厚度單位cm）。

的探針單元，高精度四探針測(cè)試原理，消除樣品與探頭及引線所引起的誤差。也可以裁剪φ20mm的正負(fù)電極片樣品來(lái)測(cè)試電池極片在不同壓力下的電阻變化；或者單獨(dú)使用MCP-T700及其標(biāo)配探頭或選配探頭來(lái)測(cè)試片材，所謂多用途。

多重安全防護(hù)，主單元保護(hù)門開(kāi)/關(guān)防護(hù)：透明聚碳酸酯蓋+防護(hù)開(kāi)關(guān)；自動(dòng)感知模腔整體組件是否放置準(zhǔn)確或者是否放置防護(hù)；自動(dòng)感知粉末模腔放置位置是否準(zhǔn)確或者是否放置防護(hù)。

eLiPMS-2000Plus粉體電阻率測(cè)試系統(tǒng)適用于阻性粉末材料研發(fā)及品質(zhì)控制，可以測(cè)試碳粉、金屬粉末、墨粉和相關(guān)的粉體/磁性材料等。它是一種節(jié)能、高效、準(zhǔn)確的粉體電阻率測(cè)試儀器eLiPMS-2000Plus粉體電阻率測(cè)試系統(tǒng)采用精密的探針技術(shù)和高精度的測(cè)量電路，可以快速、準(zhǔn)確地測(cè)定粉末材料的電阻率和電導(dǎo)率等參數(shù)。

該系統(tǒng)具有多種優(yōu)點(diǎn)：

首先，它采用了高精度四探針測(cè)試原理，消除了樣品與探頭及引線所引起的誤差，確保了測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。

該系統(tǒng)配備了簡(jiǎn)易操作軟件界面，使得用戶可以方便地設(shè)置不同的壓力點(diǎn)和保壓時(shí)間，自動(dòng)測(cè)量壓實(shí)下粉末的電阻、電阻率、電導(dǎo)率、厚度、壓強(qiáng)、顆粒壓實(shí)密度特性等參數(shù)。此外，它還可以輸出任意兩種參量之間的關(guān)系曲線，方便用戶進(jìn)行進(jìn)一步的分析和比較。

eLiPMS-2000Plus粉體電阻率測(cè)試系統(tǒng)采用了多重安全防護(hù)措施，包括主單元保護(hù)門開(kāi)/關(guān)防護(hù)、自動(dòng)感知模腔整體組件是否放置準(zhǔn)確或者是否放置防護(hù)、自動(dòng)感知粉末模腔放置位置是否準(zhǔn)確或者是否放置防護(hù)等，有效保障了系統(tǒng)和操作人員的安全。