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X熒光光譜儀是利用XRF檢測原理實現對各種元素成份進行快速、無損分析。
該儀器的主要特征是利用智能真空系統，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發效果，利用XRF技術可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點關注的元素進行分析，在冶煉過程控制中起到了測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應用上也十分廣泛。
X射線管通過產生入射X射線(一次X射線)，來激發被測樣品。 受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線(又叫X熒光)，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量或者波長。然后，儀器軟件將探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。
X熒光光譜儀的使用須知：
1、采用X光管產生激發源，因此，在不使用時，儀器會自動將X光管的高壓斷掉，使X光管的電源處理待機狀態。此時，儀器將不會產生任何射線，同時大大延長X光管的壽命。
2、在放置樣品時，只要開啟防護罩，儀器也自動將X光管停止，不再產生X射線，*可以保護使用者的人身安全。
3、開啟、關閉儀器蓋子時，應輕開輕放。
4、設備使用的操作人員，必須要接受安全和操作培訓后，才可上機，以確保設備的安全操作與正確使用。
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