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X射線熒光光譜儀（X-ray Fluorescence Spectrometer，簡稱：XRF光譜儀），是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。其原理是用X光激發源照射待分析的油樣，樣品中硫元素的內層電子被擊出后，造成核外電子的躍遷，在被激發的電子返回基態的時候，會放射出硫元素的特征 X 光。檢測器(Detector)接受這些硫元素的特征X光信號，儀器軟件系統將其轉為對應的測試強度。用標準物質樣品建立特征X射線強度與硫含量之間的關系，也就是標定曲線。在建立了硫元素不同含量范圍的標定曲線后，再去測試未知樣品，便可快速分析石油及其他液體中的總硫和其他元素含量。
X射線熒光光譜儀能夠分析元素周期表中的大部分元素，具體而言，從鈉元素（原子序數Z=11）到鈾元素（原子序數Z=92）都可以利用這種技術進行檢測分析。但是對于原子序數較低的元素（鈦元素Ti，Z=22以下），空氣會對檢測結果產生較大影響；由低原子序數元素產生的熒光值通常更低，并且樣品基體中的其它元素有可能會吸收低原子序數元素的能量輻射。
通常情況下，用于提高低原子序數元素的檢測靈敏度的方法主要為將儀器的樣品室抽成真空環境或者以氦氣(He)沖洗樣品室。
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