用紫外-可見-近紅外分光光度計測量粉末狀 TiO2 帶隙的簡單方 法
介紹:測量材料的帶隙對半導體、納米材料以及太陽能等行業均非常重要。此篇文章描述了如何從某一材料的紫外吸收光譜確定它的帶隙。“帶隙”指的是價帶跟導帶之間的能量差(圖 1);電子能夠從某一能帶躍遷到另一能帶。對于電子來說要從價帶躍遷到導帶,需要一個一定的最小能量來躍遷,即帶隙能。說明帶隙的圖示如圖 1 所示。在半導體和納米材料行業測量帶隙是非常重要的。絕緣體的帶隙大(>4eV),導體的帶隙小(<3eV)。某一半導體的帶隙特性可以通過不同的半導體合金得到控制,如GaAlAs,InGaAs 和 InAlAs。參考文獻 1 用列表的形式給出了不同材料以及對應的帶隙
另一個選擇方案是在硅基底上鍍上不同材料的多層結構。此方法被廣泛應用在制作光伏太陽能電池的太陽能行業。因為帶隙決定了一光伏電池所吸收的太陽光譜區域,所以非常重要。到達地球的大部分太陽輻射是由能量值大于硅帶隙的波長組成的。這些高的能量將被太陽能電池吸收,但是由于能量上的差異部分被轉換為熱量而不是可用的電能。因而,除非帶隙得到控制,要不然太陽能電池的效率會非常低。使用具有不同帶隙的不同材料的多層結構被證明是一種有效的太陽能電池效率的方法。在半導體和納米材料行業,二氧化鈦 TiO2 作為其中的一種鍍膜材料被使用。TiO2 被認為可通過散射從金屬電極反射回的光促進內部對光的捕獲,并且可以改善電子載體在活性層間的傳輸。
實 驗大家早已發現納米材料研究此類材料時都用很少量的樣品進行的,所以對于此類分析采樣方式就成了一個關鍵問題。此實驗在一臺 LAMBDA 950 紫外/可見/近紅外分光光度計(帶有一個 150mm 積分球)完成(PerkinElmer,Inc.,Shelton,CT USA)。
積分球前入射窗口敞開以將鏡面反射部分降低到最小。光譜以吸光度-波長和百分反射比-波長模式記錄。用 LAMBDA950 的優點是因為其具有第二樣品倉位置可以用來安裝積分球,不會遮擋主樣品倉。
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