xdlm 237 -菲希爾x射線熒光測厚儀信息：

x射線：德國菲希爾FISCHERSCOPE-X-RAY XDLM x射線熒光鍍層測厚和資料剖析儀是普遍適用的能量色散X射線光譜儀。 它們構成了成熟的FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-C4模型系列開發的下一步。 像它們的前輩一樣，它們特別合適于無損厚度丈量和薄涂層剖析以及批量消費的零件和印制板上的自動丈量。有三個型號：XDLM 231具有平面支撐臺，XDLM 232具有手動操作的X / Y臺。 XDLM 237裝備了一個電動X / Y平臺，當翻開防護罩時，該平臺會自動移到裝載位置。

應用實例：

XDLM丈量系統經常用來丈量接插件和觸點的各種底材上的Au/Ni, Au/PdNi/Ni, Ag/Ni或Sn/Ni鍍層的厚度。通常功用區都是很小的構造如先進或突起，丈量這些區域必需運用很小的準直器或合適樣品外形的準直器。例如丈量橢圓形樣品時，就要運用開槽的準直器以取得*大的信號強度。