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晶圓檢測顯微鏡(微分干涉金相顯微鏡)采用優(yōu)質(zhì)的無限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)，同時配備明暗場通用的長工作距離平場平場消色差物鏡，多光路的系統(tǒng)設(shè)計，可同時支持雙目鏡筒觀察和數(shù)碼攝像裝置觀察。
廣泛應(yīng)用于研究金屬的顯微組織，能在明場、暗場、偏光、微分干涉下進(jìn)行觀察和攝影，配備專用軟件，更可同步進(jìn)行測量分析。
晶圓檢查顯微鏡一般用于晶圓、平板顯示器、印刷電路板和其他大型樣品的觀察。奧林巴斯半導(dǎo)體顯微鏡綜合應(yīng)用還是不錯的，模塊設(shè)計很靈活，能適應(yīng)多種檢查，而且還可以和圖像分析軟件一起使用，快速生成檢測報告，用起來超級方便。
例如德國著名顯微鏡企業(yè)徠卡顯微系統(tǒng)，提供晶圓檢測顯微鏡定制化、模塊化成像解決方案，半導(dǎo)體檢測顯微鏡、電路板檢測顯微鏡和晶圓檢測顯微鏡可幫助供應(yīng)商和設(shè)備制造商在晶圓加工、集成電路封裝、集成電路組裝和測試中快速而精確地進(jìn)行檢測和分析。
下面讓我們一起來了解一下晶圓檢查顯微鏡的應(yīng)用有哪些吧
1、高性能光學(xué)元件
在晶圓檢測顯微鏡中使用高質(zhì)量光學(xué)元件可以更高效地檢測晶圓和半導(dǎo)體器件，因為您只需花費(fèi)較少的精力便可觀察到微小的細(xì)節(jié)。 徠卡顯微系統(tǒng)公司的成像系統(tǒng)使用獲獎光學(xué)元件，可生成無失真圖像。 光學(xué)元件可能會出現(xiàn)2種需要校正的像差：
·單色(不受光波長[顏色]的影響) ，如散光、彗差和場曲
·多色(取決于光波長)。
2、觀察納米級細(xì)節(jié)的快速高分辨率成像
另外相對于晶圓檢測顯微鏡，還有一款叫-PCB電路板檢測顯微鏡的類似產(chǎn)品，顧名思義就是用于電路板生產(chǎn)的質(zhì)量控制檢測的。
PCB印刷電路板作為電子電器元件的主板或基板，PC B板上的任何小設(shè)備都可能造成一定的功能故障，甚至使整個電路板報廢，再加上PCB制造競爭日益激烈，用戶質(zhì)量要求提高。
因此，PCB印刷電路板需要在每個節(jié)點(diǎn)進(jìn)行嚴(yán)格的質(zhì)量控制，以便隨時進(jìn)行質(zhì)量檢查和現(xiàn)場檢查。工廠在PCB和電子元件制造工作中快速準(zhǔn)確地進(jìn)行檢測、返工、分析和組裝.
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