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sem電子掃描電鏡是介于透射電鏡和光學顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質性能進行微觀成像。它是用一束極細的電子束掃描樣品，在樣品表面激發出次級電子，次級電子的多少與電子束入射角有關，也就是說與樣品的表面結構有關，次級電子由探測體收集，并在那里被閃爍器轉變為光信號，再經光電倍增管和放大器轉變為電信號來控制熒光屏上電子束的強度，顯示出與電子束同步的掃描圖像。
在大多數應用中，在樣本表面的選定區域上收集數據，并生成顯示這些屬性的空間變化的二維圖像。由于電子的波長遠小于光的波長，因此sem的分辨率優于光學顯微鏡的分辨率。
下面咱們來了解下sem電子掃描電鏡的各組成結構特點：
1、電子光學系統
由電子槍，電磁透鏡，掃描線圈和樣品室等部件組成。其作用是用來獲得掃描電子束，作為信號的激發源。為了獲得較高的信號強度和圖像分辨率，掃描電子束應具有較高的亮度和盡可能小的束斑直徑。
2、信號收集及顯示系統
檢測樣品在入射電子作用下產生的物理信號，然后經視頻放大作為顯像系統的調制信號。現在普遍使用的是電子檢測器，它由閃爍體，光導管和光電倍增器所組成。
3、真空系統
真空系統的作用是為保證電子光學系統正常工作，防止樣品污染，一般情況下要求保持10-4~10-5Torr的真空度。
4、電源系統
電源系統由穩壓，穩流及相應的安全保護電路所組成，其作用是提供各部分所需的電源。
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