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電阻率及型號測試儀使用說明
產(chǎn)品說明
JX2008 電阻率及型號測試儀是運用四探針測量原理的多功能
綜合測試裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和
軸向電阻率，于半導體及太陽能行業(yè)的篩選。
JX2008 電阻率及型號測試儀 產(chǎn)品特點
1儀器采用 220V 交流電源供電。
2 同時檢測硅半導體材料的電阻率和型號兩項指標。
3 擁有較高的電阻率測試分辨率， 小可到0.001歐姆.厘米。
4 能精確的分辨電阻率在0.002歐姆.厘米以上的硅半導體材
料型號。
5 **立的 P/N 型重摻告警設(shè)置，便于工廠大規(guī)模快速選料。
6 適中的體積和便攜性。
7 簡單的操作，快速的測試。
8 低廉的價格，很高的性價比。
1.具有電阻率及型號測試功能，適合分選型號，并能夠測試并顯示出電阻率的值。
2.電阻率分檔直觀，P/N報警門限分設(shè)。
3.預設(shè)樣片厚度，自動修正，直讀電阻率
4.P/N分選精度強
5.交流電AC220V供電
6.主機尺寸：155×120×50mm
6.電阻率:0.001-100歐姆厘米
7.P/N型號:0.05歐姆厘米<電阻率<100歐姆厘米
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