泰勒霍普森粗糙度儀Surtronic DUO技術參數
SURTRONIC DUO 粗糙度儀技術指標:
量 程:200um
行 程:5mm
取樣長度:0.8mm +/-15%
參 數:Ra:0.01um-40um
Rz:0.1um-199um Rp、Rt、Rv
顯 示Ra:0.01um
精 度:Rz:0.1um
檢測方式:壓電式
尺 寸:125*80*38mm
重 量:200g
訂貨號:112-3115
SURTRONIC DUO粗糙度儀 Ra Rz Rv Rp Rt
112-3115-10EX(防爆型) Ra Rz Rv Rp Rt
訂貨號:112-2916-03 Ra Rz
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