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半導體激光器測試系統 型號：RCD-6311 -X
RCD-6311 -X系列半導體激光器測試系統是一種不需附加手段, 在半導體激光器生產線環境條件下能直接、快速、準確測量各種輸出形式(包括直接輸出、準直輸出和光纖耦合輸出等)的半導體激光器件參量的儀器。具有測試參數范圍廣、功能齊全、自動化程度高、操作使用方便可靠、測試精度高等特點。尤其在大功率管芯直接輸出激光參量測試方面是其它儀器所無法替代的。
該系統由探測器、采樣器、角度控制器、信號處理器、計算機等單元組成。根據用戶的測試要求選擇配置。 可以測量: 激光輸出功率、電流曲線(P-I)、管壓降、電流曲線(V-I)、 閾值電流(Ith)、工作電流(Io)、工作電壓(Vo)、斜率效率(Es)、微分電阻(Rd)、功率效率(Ep)、發射光譜(λ, δλ)。
同時，可以根據用戶需求訂制個性化產品。
同時，可以根據用戶需求訂制個性化產品。
| Φ15~25 mm | |
| 0~20W、0~200W、0~2000W、0~5000W可選 | |
| 5% | |
| 0~2A、0~50A、0~150A可選 | |
| 3% | |
| -60~+60度 | |
| 600nm~1000nm, 分辨率 0.4nm | |
| 808nm或用戶的其它波長 | |
| 0~4V、0~50V、0~150V可選 | |
| 連續電源 0~2A, 4V、0~50A,40V可選 | |
| 0~50A、0~150A, 200V可選 | |
| 可根據用戶需求訂制 |
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