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溫控探針冷熱臺可編程精密控溫，也可獨立控制，也可單獨使用，也可搭配顯微鏡或光譜儀使用。 其可在－190°C ~ 600°C范圍內控溫，同時允許探針電測試、光學觀察和樣品氣體環境控制。探針臺上蓋與底殼構成—個氣密腔，可往內充入氮氣等保護氣體，來防止樣品在負溫下結霜，或高溫下氧化。可選擇透射光或反射光觀察 探針種類豐富，可根據用戶需求進行定制。
溫控探針冷熱臺通過杠桿式支架，使用的是彎針探針。相比傳統的直針探針，這種設計不僅點針更準確，而且點針力度更大，和樣品的電接觸性更勝。
溫控探針冷熱臺可在顯微鏡、倒置顯微鏡、紅外光譜儀、拉曼儀、X射線等儀器。適用高分子/液晶、材料、光譜學、生物、醫藥、地質、 食品、冷凍干燥、 X光衍射等領域應用。
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