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賽默飛掃描電鏡結合了全面的成像性能和*的環境模式，同時兼容廣泛的硬件和軟件選型，可滿足多用戶實驗室的綜合應用需求。支持掃描預設、便捷的相機導航更進一步提升了生產力、數據質量和易用性。多種檢測器選項的定向背散射探測器、STEM、陰極熒光探測器等功能，探測器信號同步采集和顯示，可以在最短的時間內提供答案。此外，ESEM可以在現實條件下對樣品進行原位研究，例如在濕潤、高溫、潮濕或反應性環境中的樣品觀察
賽默飛掃描電鏡有三種真空模式，使得系統靈活性*，可以容納任何SEM可用的*泛的樣品類型，包括放氣的、未鍍導電膜的或者是與真空狀態不相容的樣品。它同時支持相對的雙能譜(EDS)探測器、共面能譜(EDS)、電子背散射衍射(EBSD)和平行束波譜(WDS)探測器。分析樣品倉可以滿足日益增長的樣品元素信息及晶體結構分析需求。
賽默飛掃描電鏡具有幾下幾個特點：
1.在自然狀態下對材料進行原位研究：在各種操作模式下分析導電和不導電樣品，同步獲取二次電子像和背散射電子像。
2.大程度縮短樣品制備時間：低真空和環境真空技術可針對不導電和/或含水樣品直接成像和分析，樣品表面無荷電累積。
3.觀察所有樣品獲取全面的信息，在每種操作模式下均可同時進行SE和BSE成像。
4.優益的不導電樣品分析功能：借助多級穿過透鏡的真空系統，實現低真空下的高質量EDS和EBSD分析。
5.高精度優中心樣品臺，可多方位觀察樣品。
6.軟件直觀、簡便易用，配置用戶向導及撤銷功能，新手用戶可進行高效操作，專家用戶也可進行更少的操作，完成快速分析。
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