IC芯片檢測用恒溫恒溫試驗(yàn)箱滿足標(biāo)準(zhǔn)

來源：東莞市皓天試驗(yàn)設(shè)備有限公司 2020年10月12日 09:16

IC芯片檢測用恒溫恒溫試驗(yàn)箱滿足標(biāo)準(zhǔn)

恒溫恒濕試驗(yàn)箱滿足標(biāo)準(zhǔn)：

　　1.GJB150.3 高溫試驗(yàn)

　　2.GJB150.4 低溫試驗(yàn)

　　3.GJB150.9 濕熱試驗(yàn)

　　4.GB11158 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

　　5.GB10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

　　6.GB10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

　　7.GB/T10586-89 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件

　　8.GB/T2423.1-2008 低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法

　　9.GB/T2423.2-2008 高溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法

　　10.GB/T2423.3-2006 濕熱試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法

　　11.GB/T2423.4-2008 交變濕熱試驗(yàn)方法

　　12.GB/T2423.22-2002 溫度變化試驗(yàn)方法

　　13.IEC60068-2-1.1990 低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法

　　14.IEC60068-2-2.1974 高溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法

有關(guān)于更多的恒溫恒溫試驗(yàn)箱歡迎大家來咨詢皓天設(shè)備，我們會(huì)為您一一作答!恒溫恒溫試驗(yàn)箱在各個(gè)實(shí)驗(yàn)當(dāng)中起著非常重要的角色！

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