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涂鍍層測(cè)厚儀的測(cè)量精度受何影響呢？
涂鍍層測(cè)厚儀的基本工作原理是當(dāng)測(cè)頭與被測(cè)式樣接觸時(shí)，測(cè)頭裝置所產(chǎn)生的高頻電磁場(chǎng)，使置于測(cè)頭下的金屬導(dǎo)體產(chǎn)生渦流，其振幅和相位是導(dǎo)體與測(cè)頭之間非導(dǎo)電覆蓋層厚度的函數(shù)，即該渦流產(chǎn)生的交變電磁場(chǎng)會(huì)改變測(cè)頭參數(shù)，而測(cè)頭參數(shù)變量的大小，并將這一電信號(hào)轉(zhuǎn)換處理，即可得到被測(cè)涂鍍層的厚度。
影響涂鍍層測(cè)厚儀測(cè)量精度的因素：
1.覆蓋層厚度大于25μm時(shí)，其誤差與覆蓋層厚度近似成正比。
2.基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響，它與基體金屬材料成分及熱處理方法有關(guān)。
3.任何一種測(cè)厚儀都要求基體金屬有一個(gè)臨界厚度，只有大于這個(gè)厚度，測(cè)量才不會(huì)受基體金屬厚度的影響。
4.測(cè)厚儀對(duì)式樣測(cè)定存在邊緣效應(yīng)，即對(duì)靠近式樣邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處的測(cè)量是不可靠的。
5.試樣的曲率對(duì)測(cè)量有影響，這種影響將隨曲率半徑的減小明顯地增大。
6.基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度影響測(cè)量的精度，粗糙度增大，影響增大。
7.測(cè)厚儀對(duì)妨礙測(cè)頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此測(cè)量前應(yīng)清除測(cè)頭和覆蓋層表面的污物;測(cè)量時(shí)應(yīng)使測(cè)頭與測(cè)試表面保持恒壓垂直接觸。
涂鍍層測(cè)厚儀隨著技術(shù)的日益進(jìn)步，特別是近年來(lái)引入微機(jī)技術(shù)后，采用磁性法和渦流法的測(cè)厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實(shí)用化的方向進(jìn)了一步。測(cè)量的分辨率已達(dá)0.1微米，精度可達(dá)到1%，有了大幅度的提高。它適用范圍廣，量程寬、操作簡(jiǎn)便且價(jià)廉，是工業(yè)和科研使用十分廣泛的測(cè)厚儀器。
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