我們在1月份連續推出了《倫敦金屬交易所有色金屬質量控制系列 —— 高純基體金屬的 ICP-OES 分析》（1）Avio 500 分析金屬鎳中的雜質和（2）Avio 500 分析金屬鉛中的雜質，介紹了倫敦金屬交易所對金屬鎳和鉛中的雜質要求，以及珀金埃爾默 Avio ICP-OES 在相關檢測中表現出來的優異的干擾消除能力、檢出能力、穩定性，可靠性和準確性等，以及明顯降低儀器運行成本的Ar低消耗量。本期我們將繼續介紹系列的第三部分《高純基體金屬的 ICP-OES 分析（3）Avio 200 分析金屬鋁中的雜質》，了解倫敦金屬交易所對金屬鋁的標準規范，以及 Avio ICP-OES 在檢測方面表現出來的多種優異性能，特別是在波長穩定性和光譜分辨率上的表現。

金屬鋁（Al，英文Aluminium，原子序數為13，原子量26.98）。鋁元素在地殼中的含量僅次于氧和硅，居第三位，是地殼中含量豐富的金屬元素。鋁及其合金的*性質能夠滿足航空、建筑、汽車三大重要工業發展所要求的材料特性，使得金屬鋁的生產和應用極為廣泛。倫敦金屬交易所發布了兩種規格的金屬鋁（99.5%純度和99.7%純度）的雜質要求，表 1 列舉了對其中一種鋁（99.7%純度）中雜質的要求；同時，也將中國國標對鋁錠中雜質的要求也列入表中（GB/T 1196-2008）。

表 1. 倫敦金屬交易所 99.7% 純度金屬鋁中的雜質要求

樣品

樣品以 5% 硝酸（v/v）消解，所有分析在 1% Al 溶液中進行（與樣品消解后的溶液介質接近），并按照其對雜質元素含量的規定進行加標回收實驗。

標準工作曲線

用 5% 硝酸（v/v）溶液配制濃度水平為 0.5，2.0 和 8.0 ppm 的混合標準溶液（含相應 Sc 作為內標），方法設置中使用“添加方法-樣品截距”作為校準計算方法克服等離子體中的基質效應。

儀器

珀金埃爾默 Avio 200 ICP-OES，儀器參數、實驗條件設置見表 2；各雜質元素的測定波長見表 3。標準進樣系統配置和參數用于所有分析。矩管位置設置為 -3。在考慮氬氣（Ar）成本時，Avio 200 的低氬氣消耗可以大大節省成本。

表 2. Avio 200 ICP-OES 儀器參數和實驗條件

表 3. 各雜質元素的測定波長

 回收率

濃度如表 1 所示的雜質元素混合標準溶液加到 1% Al 溶液中的回收率均在 ±5% 以內，結果如圖 1 所示，表明能夠準確檢測低濃度的雜質元素。

 圖 1. 雜質元素混合標準溶液在 1% 濃度 Pb 溶液中的加標回收率

儀器穩定性

通過 4 小時連續分析 1% Pb 溶液中內標物 鈧（Sc）的光譜信號強度的變化考察儀器的穩定性，結果見圖 2，信號強度的波動在 ±4% 以內，表明儀器有著良好的穩定 。

 圖 2. 1% Al 溶液中內標物鈧（Sc）的光譜信號強度變化

方法檢出限

方法檢出限定義為連續 7 次測量 1% Al 溶液中各雜質元素測量值的標準偏差的 3 倍，結果如圖 3 所示，表明方法的檢出限符合金屬鎳標準規范要求。

 圖 3. 1% Al 溶液中各雜質元素的檢出限（深藍色）和倫敦金屬交易所金屬鋁標準規范要求（淺藍色，按 100 倍稀釋 99.70% 純 Al 計算）

Avio ICP-OES的波長穩定性和光譜分辨率

1. Avio ICP-OES 具備較好的波長穩定性（圖 4）

在 < 1 nm 波段內進行波長校正，具有*的波長穩定性，不需要外界恒溫即可進行樣品測定

熱氣流循環恒溫，溫度恒定 38 ± 0.01°C，波長變化率 < 0.00025 nm/小時

所有光學元件安置在基座上成為一個整體，沒有任何易動元件

 圖 3. 10 – 35 °C 環境下連續測量 20 小時的波長穩定性

2. Avio ICP-OES 具備較高的光譜分辨率

紫外與可見光*分開，同時檢測

譜線清晰，雜散光極少，檢測器邊緣亦具有與中間相同的分辨率

*的三狹縫設計，對干擾較小的譜線，可用寬的狹縫以獲得更高的光通量；對干擾較大的譜線，可用窄的狹縫以獲得更好的光譜分辨信息

采用大面積光柵，有*的色散率，即使在 200 nm處也可獲得優異的光學分辨率（圖 4）

圖 4. 每一根譜線由 1 – 30 個像素組成, 在 200 nm 處的分辨率可達 0.003 nm

結論

本文證明了珀金埃爾默 Avio ICP-OES 可以對高純 Al 中的雜質元素進行準確分析，符合倫敦金屬交易所對高純金屬 Al 的要求。Avio ICP-OES 在實驗過程中顯示了優異的波長穩定性和光譜分辨率。

 Avio 200 ICP-OES

 Avio 500 ICP-OES

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