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雷達物位計已成為物位測量儀表市場上的主流產品，主要分為雷達物位計和導波雷達物位計。
1.雷達物位計
雷達物位計發射功率很低的短的微波通過天線系統發射并接收。雷達波以光速運行。運行時間可以通過電子部件被轉換成物位信號。一種特殊的時間延伸方法可以確保短時間內穩定和的測量。即使存在虛假反射的時候，新的微處理技術和軟件也可以準確地分析出物位回波。通過輸入容器尺寸，可以將上空距離值轉換成與物位成正比的信號。儀表可以空倉調試。在固體測量中的應用可以使用K-頻段的高頻傳感器。由于信號的聚焦效果非常好，料倉內的安裝物或倉壁的粘附物都不會影響測量。
2.導波雷達物位計
導波雷達物位計的微波脈沖沿著一根纜、棒或包含一根棒的同軸套管運行，接觸到被測介質后，微波脈沖被反射回來，并被電子部件接收，并分析計算其運行時間。微處理器識別物位回波，分析計算后將它轉換成物位信號給出。由于測量原理簡單，可以不帶料調整，從而節省了大量調試費用。測量纜或棒可以截短，使之更加適應現場的應用。對于蒸汽不敏感，即使在煙霧、噪音、蒸汽很強烈的情況下，測量精度也不受到影響。不受介質特性變化的影響，被測介質的密度變化或介電常數的變化不會影響測量精度。粘附：沒有問題，在測量探頭或容器壁上粘附介質不會影響測量結果。容器內安裝物如果采用同軸套管式的測量*不受容器內安裝物的影響，不需要特殊調試。
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