基恩士 WI-5000 系列干涉式同軸 3D 位移測量儀

來源：上海速曼機電設備有限公司 2020年01月03日 14:54

產(chǎn)品簡介：
針對大 10 × 10 mm 的測量區(qū)域，可瞬間獲取 8 萬個點的高度。由于采用白光干涉原理，不受材質(zhì)/顏色、死角的影響，實現(xiàn)了微米級的高精度測量。

1.并非以點線測量，而是以“面”進行測量針對大10×10 mm的測量區(qū)域，可瞬間獲取8萬個點的高度。由于采用白光干涉原理，不受材質(zhì)/顏色、死角的影響，實現(xiàn)了微米級的高精度測量。

2.在線實現(xiàn)高速全數(shù)檢測測量多點時，需要高精度且高速掃描目標物。因此，往往會將時間浪費在移動載物臺上，不易進行全數(shù)檢測。由于WI-5000系列是以面進行同時測量，因此可大幅縮短測量時間，實現(xiàn)全數(shù)檢測。

3.大幅削減離線檢測工時為了用于離線檢測，備有可固定傳感器頭的底座。配備可削減檢測工時的各種實用功能。改善從簡易測量到保存數(shù)據(jù)等各種情況的可操作性

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