根據歐盟委員會 (EC) 建議 (2011/696/EU)，出于監管的目的，納米材 料是“含有呈未結合態、聚集體或聚結物顆粒的天然材料、人為偶發 材料或制造材料，其中 50% 以上顆粒的粒徑分布數量中，三維尺寸 至少有一維介于 1 nm-100 nm 之間”[1]。具有納米級外形尺寸或內部 結構的材料表現出材料宏觀尺度形態中不存在的*性質。

極小顆粒 (< 20 nm) 的檢測對于 spICP-MS 仍 然具有挑戰性，因為由此類顆粒產生的信號較低。 spICP-MS 中測得的信號基于每個顆粒中存在的離子 數量，這一數量與顆粒質量成正比。但由于顆粒質 量隨直徑的三次方而減小，因此粒徑減半（例如， 從 60 nm 減小至 30 nm）將導致質量與理論信號減 少為原始值的 1/8。同樣地，15 nm 顆粒的信號僅 為 60 nm 顆粒的 1/64。因此，具有*靈敏度和極 低背景的儀器對于支持較小粒徑的檢測和分析至關 重要。 Agilent 8900 串聯四極桿 ICP-MS (ICP-MS/MS) 具有 低背景 (< 0.2 cps) 和高達 Gcps/ppm 的靈敏度，非 常適合小顆粒檢測。此外，8900 系統能夠以極短的 (0.1 ms) 駐留時間運行，支持非?？焖俚臅r間分辨 分析 (TRA) 采集，從而可提高信噪比。

Agilent 8900 ICP-MS/MS 的低背景和高靈敏度使其適 合對含極小粒徑納米顆粒的溶液進行單顆粒分析。 本研究對粒徑 10 nm 至zui高 60 nm 金納米顆粒溶液 的粒徑和組成進行了表征，獲得了良好的準確度。 估算得出顆粒直徑的實際檢測限為 6.5 nm，BED 為 3 nm。本研究還對 10 nm、30 nm 和 60 nm 的納米顆 ?；旌先芤哼M行了準確的粒徑分析，獲得了良好的 分辨率。 采用 ICP-MS MassHunter 軟件的可選單納米顆粒應 用模塊有利于整個納米顆粒測定過程。該方法為直 徑低至 10 nm 的 Au 納米顆粒提供了快速且準確的 測定結果。