冷熱沖擊試驗(yàn)箱之-詳解三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱組成架構(gòu)
冷熱沖擊試驗(yàn)箱之-詳解三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱組成架構(gòu)
三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱組成架構(gòu)如下:
三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱設(shè) 備區(qū)分為:低溫實(shí)驗(yàn)室(蓄能板、加熱器、蒸發(fā)器)、高溫實(shí)驗(yàn)室(蓄能板、加熱器)、沖擊溫度測(cè)試室(溫濕度傳感器、樣品放置架)三部分,測(cè)試產(chǎn)品置于測(cè)試 區(qū),沖擊時(shí)高溫區(qū)或低溫區(qū)的溫度沖入測(cè)試區(qū)進(jìn)行沖擊, 測(cè)試產(chǎn)品為靜態(tài)式。還包括控制系統(tǒng)、 制冷系統(tǒng)、 加熱系統(tǒng)(加熱絲)、 風(fēng)道系統(tǒng)(風(fēng)葉、電機(jī))、 排水系統(tǒng)、保護(hù)系統(tǒng)(過(guò)載,過(guò)壓、漏電等)
溫度范圍在-60到+150攝氏度,沖擊歸復(fù)時(shí)間在8S以內(nèi),穩(wěn)定在5min以內(nèi),三箱溫度沖擊試驗(yàn)箱是您實(shí)驗(yàn)室*良品。
附注:
三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱用 途:主要用于測(cè)試電器零部件﹑自動(dòng)化零部件、半成品﹑金屬、化學(xué)材料、通迅元件、PCB基扳電子晶片等材料,測(cè)試樣品在瞬間經(jīng)高溫、低溫的連續(xù)溫度變化環(huán) 境下所能忍受不同環(huán)境的程度,試驗(yàn)其在急劇變化的溫差條件下熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化和物理傷害。可以對(duì)其性能更加清晰的了解。
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