利用ICP-MS 評(píng)估水樣中鍶雙電荷對(duì)鈣的影響
利用ICP-MS 評(píng)估水樣中鍶雙電荷對(duì)鈣的影響
簡(jiǎn)介:
利用珀金埃爾默ICP-MS檢測(cè)痕量鈣(Ca)一直是一個(gè)難點(diǎn),由于Ca 自然豐度高的同位素(96.9%)為40Ca,與40Ar 為同質(zhì)異位素,使用常規(guī)方法無(wú)法測(cè)定。所以,通常對(duì)Ca 進(jìn)行檢測(cè)的標(biāo)準(zhǔn)方
法中推薦的質(zhì)量數(shù),U.S. EPA 200.8 為43;國(guó)內(nèi)HJ 700-2014為44,測(cè)定下限為26.4 μg/L。而43Ca 和44Ca 的自然豐度分別僅有0.14% 和2.1%,在測(cè)定過(guò)程中由于靈敏度較低,且干
擾消除不*,容易導(dǎo)致檢出限偏高、結(jié)果精密度差等缺點(diǎn)。
按照U.S. EPA 200.8 和HJ 700-2014 標(biāo)準(zhǔn),43Ca 和44Ca 的測(cè)定分別使用標(biāo)準(zhǔn)模式和碰撞(KED)模式。而對(duì)自來(lái)水、飲用水的檢測(cè)結(jié)果通常較標(biāo)準(zhǔn)值偏高,這是由于樣品中通常含有一定量(190 μg/L 左右)的鍶(Sr),而Sr 的第二電離能為11.03 eV,容易形成86Sr++ 和88Sr++ 雙電荷,會(huì)對(duì)43Ca和44Ca 產(chǎn)生質(zhì)譜干擾,且很難去除。
NexION 2000 ICP-MS 的通用池技術(shù)可以使用各種高純高反應(yīng)性氣體對(duì)質(zhì)譜干擾進(jìn)行去除,對(duì)于40Ca,可以使用100%純氨氣(電離能10.16 eV)對(duì)40Ar(電離能15.76 eV)進(jìn)行去除,獲得亞ppb 級(jí)的檢出限。這得益于NexION 2000 可以調(diào)諧和優(yōu)化通用池四極桿的RPq 參數(shù),使得高反應(yīng)性氣體的各種副產(chǎn)物干擾被*去除。
40Ar+ + NH3 → 40Ar + NH3+
ΔHr = ΔIP = -15.76 eV+10.16 eV = -5.60 eV ( 放熱,反應(yīng)自發(fā)進(jìn)行)
為了表征Sr 雙電荷對(duì)于Ca 檢測(cè)結(jié)果的影響, 利用NexION2000 ICP-MS 對(duì)10 mg/L Sr 標(biāo)準(zhǔn)溶液進(jìn)行檢測(cè),結(jié)果見(jiàn)圖2。可見(jiàn)43Ca 和44Ca 在Sr 雙電荷的干擾下,檢測(cè)結(jié)果顯著偏離真值,而40Ca 的檢測(cè)結(jié)果接近真值,且*可以滿足HJ 700-2014 要求的檢測(cè)下限。利用氨氣作反應(yīng)氣測(cè)定樣品中的40Ca,*避開(kāi)了Sr 元素的雙電荷質(zhì)譜干擾,再也不需要回避混標(biāo)或樣品中Sr 的存在,準(zhǔn)確快捷地得出Ca 的檢測(cè)結(jié)果。
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