涂鍍層測厚儀測量數(shù)據(jù)的影響因素
1、薄涂層的測量準(zhǔn)確度和厚度沒有關(guān)系,是一個(gè)常數(shù),厚涂層的測量準(zhǔn)確度是一個(gè)近似恒定的分?jǐn)?shù)和厚度的乘積。
2、基體磁性的變化會影響測量的數(shù)據(jù),所以涂鍍層測厚儀校準(zhǔn)時(shí)要采用材質(zhì)和試樣基體相同的校準(zhǔn);采用待鍍產(chǎn)品做基體進(jìn)行儀器校準(zhǔn),以避免不相同的集體或局部熱處理和冷加工影響測量數(shù)據(jù)。
3、涂鍍層測厚儀在靠近試樣邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處的測量數(shù)據(jù)往往是不可靠的,這種效應(yīng)可能從不連續(xù)處向前延續(xù)約20mm。
4、涂鍍層測厚儀測量曲面時(shí),數(shù)據(jù)隨曲率半徑的減小而明顯。
5、涂鍍層測厚儀探頭和試樣要保持清潔,因?yàn)橥鈦淼母街鴫m埃會影響測量的數(shù)據(jù)。
涂層測厚儀使用方法
●基體金屬特性
對于磁性方法,標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬的磁性和表面粗糙度,應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。
對于渦流方法,標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì),應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。
●基體金屬厚度
檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度,如果沒有,可采用3.3中的某種方法進(jìn)行校準(zhǔn)。
●邊緣效應(yīng)
不應(yīng)在緊靠試件的突變處,如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測量。
●曲率
不應(yīng)在試件的彎曲表面上測量。
相關(guān)產(chǎn)品
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