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JEOL JEM-2800 高通量場發射透射電子顯微鏡
放大倍數：zui高2，000,000 加速電壓：200KF
分辨率：0.21nm(點分辨率) 儀器種類：場發射
JEM-2800是日本電子透射電子顯微鏡系列中的一款特殊設計的產品，在兼顧高分辨高穩定性的同時，zui求分析效率的zui大化和操作的自動化。顛覆傳統的電鏡外觀設計，除了讓人耳目一新外，還對設置環境更具抗干擾能力。
主要技術指標：
1. 點分辨率：0.21nm；
2. 晶格分辨率：0.1nm;
3. STEM 分辨率：0.16nm；
4. 二次電子分辨率：0.5nm；
5. 能譜：可以安裝兩個超級能譜
6. 洛倫茲模式：標配
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