keysight N7788B 光元器件分析儀
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主要特性與技術指標
主要優勢
- 通過單次掃描實現zui高精度: 無需通過多次掃描計算平均值
- 高測量速度
- 10 秒之內即可完成 C/L 頻帶中的完整測量(無需等待多個平均值)
- 穩定性不受光纖移動/振動和漂移的影響
描述
是德制定了使用 N7788B 元器件分析儀進行元器件測量的限制, 其專有技術可與的瓊斯矩陣本征法(JME)相媲美,瓊斯矩陣本征法是測量光器件的偏振模色散(PMD)或差分群時延(DGD)的標準方法。
是德新的單次掃描技術具有一系列優點,可用于測試全套參數:
- DGD/ PMD
- PDL
- 功率/損耗
- TE/TM 損耗
- 二階 PMD
- 主偏振態(PSP)
- 瓊斯和米勒矩陣
用于生產車間的設計
高吞吐量: 在 10 秒鐘內對 C 和 L 頻帶進行全面分析!
軟件驅動程序: 為系統的外部控制提供一系列軟件驅動程序。 這有助于通用 ERP 系統中的輕松集成。
遠程控制: 支持通過 LAN 或互聯網對儀器進行控制, 實現自動操作和故障診斷。
報告生成: 支持生成 PDF 格式的報告。 用戶可以配置所有的內容(包括版圖)。
實時功率讀數: 提供實時功率讀數(支持新器件的光纖耦合),可以對非連接的器件進行高吞吐量測量。
條形碼掃描儀: 支持使用條形碼掃描儀快速傳輸被測器件的序列號。
N7788B-021 Straight Laser Input Port
N7788B-022 Angled Laser Input Port
N7788B-031 Straight DUT Port
N7788B-032 Angled DUT Port
N7788B-300 Component Analyzer, 1270nm to 1375nm
N7788B-400 Component Analyzer, 1270nm to 1375nm and 1460nm to 1620nm
N7788B-500 Component Analyzer, 1460nm to 1620nm
81000FI Connector interface FC/PC/SPC
81000HI Connector interface E-2000 (physical contact)
81000KI Connector interface SC
81000LI LC Connector interface for source modules
81000NI Connector interface, connector type FC - narrow key way
81000SI Connector interface DIN 47256/4108
81000VI Connector interface ST
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