變頻串聯(lián)諧振試驗裝置應(yīng)用性能分析:
對變頻串聯(lián)諧振應(yīng)用分析的時候,變頻串聯(lián)諧振其諧振頻率,其中L為電抗器的電感值,如有幾個電抗器串并聯(lián)使用應(yīng)考慮互感的影響;C為被試品及分壓電容器的和,現(xiàn)場可以用電橋或介損儀進(jìn)行實際測量獲得。高壓電流I=2πfCU,由被試品的電氣參數(shù)和出廠耐壓試驗值,可確定現(xiàn)場的耐壓試驗電壓U;有功功率P=1.2(P0+PK),其中P0為勵磁變空載損耗,PK為電抗器額定有功損耗。
變頻串聯(lián)諧振試驗過程中,勵磁變的容量應(yīng)大于有功功率P,并在勵磁變zui低輸出電壓滿足試驗要求的前提下盡量降低勵磁變的變比,從而相應(yīng)減小勵磁變原邊的輸入電流。試驗電源容量S=P+P1,其中P1為變頻電源本身的損耗,由電源端輸入電壓為380V可得電源電流I1=。試驗中電抗器的額定電壓和電流也應(yīng)大于試驗電壓和高壓電流,當(dāng)電抗器采取串并聯(lián)以滿足試驗要求時,必須計算每個電抗器上所承受的電壓和電流不超限值。
變頻串聯(lián)諧振試驗裝置在現(xiàn)場試驗中,通常采用16mm2以上的裸銅線接地,裸銅線其寄生電感在μH數(shù)量級,約0.1-1μH/m,直流電阻約0.1mΩ,如果接地線有彎曲環(huán)繞現(xiàn)象,電感量可增加到10-1000μH/m。試品絕緣通常在交流電壓的正峰值或負(fù)峰值被擊穿,試品被擊穿瞬間試品上的電壓zui高,擊穿后試品上的電壓跌落到零的時間一般在0.1-10μs之間,具體情況與擊穿點的實際情況有關(guān)。從放電能量上看,即使放電時,試品的zui小電容量只有0.002μF,實際試驗時試品電容量遠(yuǎn)大于該值。如以放電時頻率為100kHz、地線寄生電感為1μH、放電電流為1000A計算,地線的寄生感抗XL==0.628Ω,地線可能產(chǎn)生的過電壓Ud=If XL=1000×0.628=628V。
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