LEITZ探針測(cè)試方面
測(cè)試針，用于測(cè)試PCBA的一種探針。
表面鍍金，內(nèi)部有平均壽命3萬(wàn)~10萬(wàn)次的高性能彈簧。
國(guó)外比較有名的有： QA ,IDI、UC、Semiprobe、ECT，INGUN，BT
探針的材質(zhì)：W，ReW,CU、 A+
1.主要采用的材質(zhì)為W，ReW, 彈性一般，容易偏移，粘金屑，需要多次的清洗，磨損損針長(zhǎng)，壽命一般。
2. A+材質(zhì)的免清針，這種材質(zhì)彈性較好，測(cè)試中不容易偏移，并且不粘金屑，免清洗，因此壽命較長(zhǎng)。
LEITZ探針分類(lèi)
探針根據(jù)電子測(cè)試用途可分為：A、光電路板測(cè)試探針：未安裝元器件前的電路板測(cè)試和只開(kāi)路、短路檢測(cè)探針，國(guó)內(nèi)大部分的探針產(chǎn)品均可替代進(jìn)口產(chǎn)品；
B、在線測(cè)試探針：PCB線路板安裝元器件后的檢測(cè)探針；產(chǎn)品的核心技術(shù)還是掌握在國(guó)外公司手中，國(guó)內(nèi)部分探針產(chǎn)品已研發(fā)成功，可替代進(jìn)口探針產(chǎn)品；
C、微電子測(cè)試探針：即晶圓測(cè)試或芯片IC檢測(cè)探針，核心技術(shù)還是掌握在國(guó)外公司手中，國(guó)內(nèi)生產(chǎn)廠商積極參與研發(fā)，但只有一小部分成功生產(chǎn)。
探針主要類(lèi)型：懸臂探針和垂直探針。
懸臂探針：劈刀型（Blade Type）和環(huán)氧樹(shù)脂型（Epoxy Type）
垂直探針：垂直型（Vertical Type）
1.ICT探針 （ICT series Probes)
一般直徑在2.54mm-1.27mm之間，有業(yè)內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)稱(chēng)呼100mil,75mil,50mil,還有更特別的直徑只有0.19mm,主要用于在線電路測(cè)試和功能測(cè)試．也稱(chēng)ICT測(cè)試和FCT測(cè)試．也是目應(yīng)用較多的一種探針．
2.界面探針(Interface Probes)
非標(biāo)準(zhǔn)的探針，一般是為少數(shù)做大型測(cè)試機(jī)臺(tái)的客戶定做的，例如泰瑞達(dá)（Teradyne)和安捷倫（Agilent)．用于測(cè)試機(jī)臺(tái)與測(cè)試夾具的接觸點(diǎn)和面．
3.微型探針（MicroSeries Probes)
兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)中心間距一般為0.25mm至0.76mm．
4.開(kāi)關(guān)探針（Switch Probes)
開(kāi)關(guān)探針單*支探針有兩路電流．
5.高頻探針（Coaxial Probes)
用于測(cè)試高頻信號(hào)，有帶屏蔽圈的可測(cè)試10GHz以內(nèi)的和500MHz不帶屏蔽圈的．
6.旋轉(zhuǎn)探針（Rotator Probes)
彈力一般不高，因?yàn)槠浯┩感员緛?lái)就很強(qiáng)，一般用于OSP處理過(guò)的PCBA測(cè)試．
7.高電流探針（High Current Probes)
探針直徑在2.54mm-4.75mm之間．zui大的測(cè)試電流可達(dá)39amps.
8.半導(dǎo)體探針 (Semiconductor Probes)
直徑一般在0.50mm-1.27mm之間．帶寬大于10GHz,50Ω characteristic
9.電池接觸探針 (Battery and Connector Contacts)
一般用于優(yōu)化接觸效果，穩(wěn)定性好和壽命長(zhǎng)．
10.汽車(chē)線束測(cè)試測(cè)試探針
專(zhuān)業(yè)用于汽車(chē)線束通斷檢測(cè)，直徑在1.0--3.5mm之間，電流在3----50A
除以上類(lèi)型外還有溫度探針，Kelvin探針等，比較少用．

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