薄產(chǎn)品HR30Tm和HR15Tm試驗規(guī)范
一般要求:
試驗與標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的HR30T或HR15T試驗條件相似,但經(jīng)協(xié)議允許在試樣背面出現(xiàn)變形痕跡。
試驗可用于厚度小于0.6mm至產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中給出的zui小厚度的產(chǎn)品。可對硬度在80HR30T以下的薄件進行試驗。產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的HR30Tm或HR15Tm硬度時,可按此方法試驗。
試樣支座:
試樣支座應(yīng)使用直徑為4.5mm的金剛石平板。支座面應(yīng)與壓頭軸線垂直,支座軸線應(yīng)與主軸同軸,并能穩(wěn)固地安裝于硬度計試臺上。
試樣制備:
如有必要減薄試樣,要對試樣上下兩面進行加工,加工中應(yīng)避免如發(fā)熱或冷變形等對金屬基體性能的影響。基體金屬不應(yīng)薄于zui小允許厚度。
壓痕距離:
如無其他規(guī)定,兩相鄰壓痕中心間距離或任一壓痕中心距試樣邊緣距離不小于5mm。
文章來自:濟南中創(chuàng)工業(yè)測試系統(tǒng)有限公司
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