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    納米材料在許多消費(fèi)產(chǎn)品領(lǐng)域的快速發(fā)展和應(yīng)用要求我們必須快速和準(zhǔn)確地對不同粒徑和成分的納米顆粒（NP） 進(jìn)行表征。有多種技術(shù)可用來表征由金屬組成的和含有金屬成分的納米顆粒，但均受技術(shù)所限無法大規(guī)模應(yīng)用 1。相比于這些技術(shù)，單顆粒 ICP-MS 技術(shù)（SP-ICP-MS）具有明顯的優(yōu)勢和更廣的應(yīng)用范圍，已有大量資料證明它可以快速對金屬納米顆粒和 / 或納米材料的組成和數(shù)量進(jìn)行表征 2-8。歐盟委員會(huì)（EC）（2011/696/ EU）對“納米材料”的建議定義為：納米材料是一種由基本顆粒組成的粉狀或團(tuán)塊狀天然或人工材料，這一基本顆粒的一維或多維尺寸在 1 納米至 100 納米之間，并且這一基本顆粒的總數(shù)量在整個(gè)材料的所有顆?？倲?shù)中占 50% 以上 9。一般而言，SP-ICP-MS 納米顆粒（NP）分析的挑戰(zhàn)之一就是準(zhǔn)確地表征粒徑小于 20 nm 的顆粒的特征 10。

    為了檢測到尺寸小于20nm的納米顆粒，SP-ICP-MS方法必須具備高靈敏度、快速數(shù)據(jù)采集速率（<75μs駐留時(shí)間）和低本底等特點(diǎn)。另外，具有自動(dòng)閾值檢測和實(shí)時(shí)本底扣除功能的數(shù)據(jù)處理軟件也是至關(guān)重要的。我們在本次工作中發(fā)現(xiàn)，搭載了*射頻發(fā)生器和離子透鏡技術(shù)的珀金埃爾默公司NexION®2000ICP-MS配合Syngistix™納米應(yīng)用軟件模塊可以準(zhǔn)確地測量單一粒徑或混合粒徑納米顆粒樣品中粒徑小于和等于10nm的納米顆粒并對其進(jìn)行表征。