近紅外光譜儀在操作時需注意以下事項：
近紅外光譜儀操作注意事項
1、測定時實驗室的溫度應在15～30℃，所用的電源應配備有穩(wěn)壓裝置。
2、為防止儀器受潮而影響使用壽命，紅外實驗室應保持干燥（相對濕度應在65%以下）。
3、樣品的研磨要在紅外燈下進行，防止樣品吸水。
4、壓片用的模具用后應立即把各部分擦干凈，必要時用水清洗干凈并擦干，置干燥器中保存，以免銹蝕。
5、OMNI采樣器使用過程中必須注意以下幾點：
（1）樣品與Ge晶體間必須緊密接觸，不留縫隙。否則紅外光射到空氣層就發(fā)生衰減全反射，不進入樣品層。
（2）對于熱、燙、冰冷、強腐蝕性的樣品不能直接置于晶體上進行測定，以免Ge晶體裂痕和腐蝕。
（3）尖、硬且表面粗糙的樣品不適合用OMNI采樣器采樣，因為這些樣品極易刮傷晶片，甚至使其碎裂。
以上是關于近紅外光譜儀操作需要注意的。
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