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(1) 激光法：優(yōu)點：操作簡便，測試速度快，測試范圍大，重復性和準確性好，可實現(xiàn)在線測量和干法測量。缺點：分辨力較低。

(2) 動態(tài)圖像法：優(yōu)點：操作簡便、拍攝與分析速度快、重復性和準確性好，可測量大顆粒，可進行圓形度、長徑比等形貌分析。缺點：不能分析細顆粒（如<2μm），儀器成本較高。

(3) 靜態(tài)圖像法：優(yōu)點：成本較低、圖像清晰、可進行圓形度、長徑比等形貌分析。 缺點：操作復雜，分析速度慢，無法分析細顆粒（如<2μm）。

(4) 電鏡法：優(yōu)點：能分析納米顆粒和超細顆粒粒度和形貌，圖像清晰，表面紋理可見，分辨率高，是表征納米顆粒粒度的標準方法。缺點：代表性差、儀器價格昂貴。

(5) 光阻法：優(yōu)點：測試速度快，可測液體或氣體中低濃度顆粒數(shù)，分辨力高，樣品用量少。缺點：進樣系統(tǒng)比較復雜，不適用粒徑<1μm 的樣品。

(6) 電阻法：優(yōu)點：操作簡便，可測顆粒數(shù)，等效概念明確，速度快，準確性好。缺點：不適合測量超細樣品和寬分布樣品，維護時更換小孔管比較麻煩。

(7) 沉降法：優(yōu)點：操作簡便，儀器可以連續(xù)運行，價格較低，測試范圍較大。缺點：測試時間較長，操作復雜。

(8) 篩分法：優(yōu)點：簡單、直觀、設備造價低，常用于大于38μm（400目）的樣品。缺點：不能用于超細樣品；結果受人為因素和篩孔變形 影響較大。

(9) 動態(tài)光散射法：優(yōu)點：測試范圍寬（從納米到亞微米）、測試速度快，重復性好，操作簡便。缺點：測試寬分布的納米材料誤差及較大。

(10) 超聲波法：優(yōu)點：可對高濃度漿料直接現(xiàn)場測量，無需稀釋樣品。 缺點：分辨率較低，準確性和重復性較差，結果受環(huán)境因素影響較大。