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美國AXOMETRICS艾克松MMSP-VIS偏光測量儀
AxoScan 是測量樣品偏振特性的系統。AxoScan可被偏振片、緩震膜和液晶顯示器制造商以及這些產品的用戶所采用。AxoScan 可以測量偏振特性（全穆勒矩陣），報告樣品的關鍵偏振參數（偏振片特性、緩釋片特性、去極化特性）。測量在單個位置進行，通常是直徑為 1.5 毫米或 3 毫米的光束。如果需要測量更小的特征，可考慮使用 AxoStep 成像偏振儀。與只測量特定偏振參數子集的 "部分 "或 "不完整 "偏振儀不同，AxoScan 和 AxoStep 可測量完整的穆勒矩陣。穆勒矩陣的 16 個元素包含了樣品可能的偏振特性。有易于使用的軟件可自動將穆勒矩陣轉換為透射率、偏振片特性（衰減和偏振）、延遲和去極化等有意義的參數。Axometrics 還可為較多行業提供定應用軟件。
美國AXOMETRICS艾克松MMSP-VIS偏光測量儀
技術參數
型號 | MMSP-VIS |
波長范圍 | 400-1000 nm |
探測器類型 | 硅光電二極管 |
分辨率 | 約1320 x 1024 |
時間 | 約1~2.5秒/區域 |
探測器尺寸 | 7.87毫米（直徑） |
型號 | MMP-HSO |
波長范圍 | 380-700 nm |
探測器類型 | 光電倍增管 |
型號 | MMP-NIR |
波長范圍 | 1250 - 1600 nm |
探測器類型 | InGaAs 光電二極管 |
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