德國FOERSTER飽和磁*度測量系統
HCJ矯頑力
JH 曲線測量系統KOERZIMAT 1.097
硬質金屬/燒結材料
制造硬質合金時，必須控制碳平衡、燒結度和制造過程中達到的顆粒大小，以確保較高的生產質量。已經檢測原材料、金屬粉末中的顆粒尺寸和分布程度，這些都與磁性參數有關。
通過 FOERSTER 測量系統可不依賴幾何形狀而精密地測量矯頑力和飽和極化，以便在燒結過程之前、期間和之后檢查材料特性。
KOERZIMAT HCJ測量系統可準確快速地測量矯頑力HcJ。
KOERZIMAT MS可自動并準確地測量特定重量以及特定體積的飽和極化。
在鋼鐵、硬質合金和粉末冶金部件的生產過程中，磁測量值比如矯頑力 HCJ，單位重量的飽和磁化強度 σs 和單位體積的飽和磁*度 Js 都與各種重要的工藝參數和材料特性有關系。通過KOERZIMAT 1.097 HCJ 設備，FOERSTER 公司提供了準確、幾何形狀*立及快速測量矯頑力HCJ 的測量系統。因為該測量系統是與標樣的幾何形狀無關的，也使得它可以測量形狀更為復雜的標樣。
測試方法
· 開放式磁化回路根據 IEC 60404-7 和 EN 10330 標準
測量 - HCJ
· 矯頑力 HCJ
· 相對剩磁 Jr
擴展模塊 J-H 測量可進行完整 J-H 磁滯回線測定，包括初始磁化曲線。
測量 - J-H
· 完整 J-H 磁滯回線
· 大磁場強度 H 和大磁極化強度 J
· 相對剩磁 Jr
· 矯頑力 HcJ
· 相對磁導率 µ r (H)
· 磁滯損耗 W
應用
· 硬質合金檢測根據 DIN ISO 3326, ASTM B887 標準
· 確定硬質合金中碳含量及顆粒尺寸
· 對生產磁鐵的金屬粉末或硬質合金的質量控制
· 對軟磁部件的熱處理及機械應力條件下的質量控制
· 通過圓柱形軟磁鋼棒探頭測定 J-H 磁滯回線，相對磁導率，磁滯損耗
· 在電子、汽車、電腦和鐘表行業中控制機電元器件，測量其極性反轉的磁損耗
· 在部件生產過程中監控磁性材料成分，材料成分通常會受機械加工、終火、塑料密封、切割、鑄造及成型影響。
· 監控熱處理過程中鋼鐵制品的磁性能
基于磁特性評估材料
在生產燒結硬質合金和粉末冶金部件時，磁性值，如矯頑力 HcJ 與許多重要的工藝參數和材料特性相關。
借助 KOERZIMAT 1.097 HCJ 矯頑力測量系統，FOERSTER 可以準確、自動、快速地測量矯頑力HcJ。*立于幾何形狀的測量特別適合對復雜形狀的樣品進行檢測。KOERZIMAT的應用包括用于檢測硬質合金的燒結等級和晶粒尺寸，對于磁鐵和硬質合金生產的金屬粉末進行質量控制。此外，還可以對軟磁部件 (SMC) 熱處理和機械應力狀態的質量監測，以及對電氣、汽車、計算機和鐘表業機電元件的檢查。
優勢一覽
依照 IEC 60404-7 標準測定矯頑力
PC 控制測量系統
*立于幾何形狀的測量
輕巧緊湊的設計
單個和連續測量控制軟件
用于記錄測量數據和參數采集的數據庫
用戶自定義報告
自動化、數據訪問等的遠程接口
特點
· 快速測量
· 簡單方便地安放標樣到標樣滑軌上
· 線圈溫度監控補償
· 檢測線圈磁屏蔽
KOERZIMAT 1.097 HCJ
· 無需特殊標樣準備
· * 立于幾何形狀的測量
· 覆蓋整個標樣體積
· 標樣艙直徑可達 60mm
· 即便是極小標樣也可通過內部探頭測量保證高的檢測靈敏度
· 測量范圍高達 100 kA/m
· 校準符合 PTB 國家標準
樣件尺寸和測量系統的靈敏度
HCJ 測量
由于樣件到測量傳感器的距離是給定的，靈敏度的限制僅僅取決于磁性材料的體積。
由于與樣件幾何形狀無關，下面的大樣品尺寸是可能的：
- 線圈 40（大 Ø 40 mm） 長度 ≤ 130 mm (測量位置 ±20 mm)
長度 ≤ 90 mm (測量位置 ±40 mm)
- 線圈 60（大 Ø 60 mm） 長度 ≤ 80 mm (測量位置 ±20 mm)
長度 ≤ 40 mm (測量位置 ±40 mm)
使用 KOERZIMAT 內部探頭，可以檢測雜散磁通量小于 0.02µT 的極小極低的磁化部件。
J-H 測量
大探頭尺寸是由磁化線圈的均勻磁化范圍決定的。
- 探頭尺寸 圓棒探頭
直徑 8 到 16 毫米
長度 / 直徑比: 10:1
德國FOERSTER飽和磁*度測量系統技術參數
測量范圍： 0 至 100 千安/米
磁場強度： 可達 450 千安/米
均勻磁場范圍： 170 x 40 毫米 （長x厚），線圈 40
120 x 60 毫米（長x厚），線圈 60
測量不確定度： 測量值的 1 %
測量元件： Foerster 探頭（磁通門）
電源： 交流100 – 240 伏，50/60 赫茲
標準
ASTM B887
描述了用于確定 燒結硬質合金矯頑強度的方法。
EN IEC 60404-7:2020
描述了 開放磁路中的矯頑強度。所描述方法 B 的優點在于可以根據幾何形狀嘗試測量。不必生產特殊測量樣品。
