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產品名稱： 單晶少子壽命測試儀
產品貨號： wi96263
產????地： ***產
產品簡介
詳細介紹
單晶少子壽命測試儀是參考美*** A.S.T.M 標準而設計的用于測量硅單晶的非平衡少數載流子壽命。半導體材料的少數載流子壽命測量，是半導體的常規測試項目之一。本儀器靈敏度較高，配備有紅外光源，可測量包括集成電路級硅單晶在內的各種類型硅單晶，以及經熱處理后壽命驟降的硅單晶、多晶磷檢棒的壽命測量等。 本儀器根據***際通用方法高頻光電導衰退法的原理設計，由穩壓電源、高頻源、檢波放大器，特制的InGaAsp／InP紅外光源及樣品臺共五部份組成。采用印刷電路和高頻接插連接。整機結構緊湊、測量數據可靠。 技 術 指 標 ： 測試單晶電阻率范圍 >2Ω.cm 可測單晶少子壽命范圍 5μS～7000μS 配備光源類型 波長：1.09μm；余輝<1 μS； 閃光頻率為：20～30次／秒； 閃光頻率為：20～30次／秒； 高頻振蕩源 用石英諧振器，振蕩頻率：30MH*** 前置放大器 放大倍數約25，頻寬2 H***-1 MH*** 儀器測量重復誤差 <±20％ 測量方式 采用對標準曲線讀數方式 儀器消耗功率 <25W 儀器工作條件 溫度： 10-35℃、 濕度 < 80％、使用電源：AC 220V，50H*** 可測單晶尺寸 斷面豎測：φ25mm—150mm； L 2mm—500mm； 縱向臥測：φ25mm—150mm； L 50mm—800mm； 配用示波器 頻寬0—20MH***； 電壓靈敏：10mV／cm；