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便攜式四探針電阻率測試儀 型號:CN61M/KDY-1A//優勢
閱讀：409 發布時間：2011-3-10
北京中西遠大科技有限公司
：楊
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| 便攜式四探針電阻率測試儀 型號:CN61M/KDY-1A//優勢 | 庫號：M251813 查看hh |
| midwest-group 概述 便攜式電阻測度儀是用來測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。 本儀器按照半導體材料電阻率的***際及***家標準測試方法有關規定設計。 它主要由電器測量部份（主機）及四探頭組成，需要時可加配測試架。 為減小體積，本儀器用同一塊數字表測量電流及阻率。樣品測試電流由高精寬的恒流源提供，隨時可進行校準，以確保電阻率測量的準確度。因此本儀器不僅可以用來分先材料也可以用來作產品檢測。對1～100Ω•cm標準樣片的測量瓿差不超過±3%，在此范圍內達到***家標準一級機的水平。 測量范圍： 可測量 電阻率：0.01～199.9Ω•cm。 可測方塊電阻：0.1～1999Ω/口 當被測材料電阻率≥200Ω•cm數字表顯示0.00。 （2）恒流源： 輸出電流：DC 0.1mA～10mA分兩檔 10mA量程：0.1～1mA 連續可調 10mA量程：1mA ～10mA連續可調 恒流精度：各檔均優于±0.1% 適合測量各種厚度的硅片 （3） 直流數字電壓表 測量范圍：0～199.9mv 靈敏度：100μv 準確度：0.2%（±2個字） （4） 供電電源： AC：220V ±10% 50/60H*** 功率8W （5） 使用環境： 相對濕度≤80% （6） 重量、體積 重量：2.2 公斤 體積：寬210×高100×深240（mm） （7）KD探針頭 壓痕直徑：30/50μm 間距：1.00mm 探針合力：8±1N 針材：TC 相關視頻介紹 視頻下載 中西集團 產品更多信息 | 便攜式四探針電阻率測試儀CN61M/KDY-1A//優勢 |