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布魯克 X 射線熒光光譜儀簡介
布魯克 X 射線熒光光譜儀（Bruker X-ray Fluorescence Spectrometer，簡稱 XRF）是一種基于 X 射線熒光原理的高精度元素分析儀器。它以其高靈敏度、非破壞性和多元素同步分析的特點(diǎn)，廣泛應(yīng)用于工業(yè)、科研和質(zhì)量控制領(lǐng)域。
原理概述
X 射線熒光光譜儀通過向樣品發(fā)射高能 X 射線，激發(fā)樣品中的原子。被激發(fā)的原子通過釋放特征熒光 X 射線返回穩(wěn)定狀態(tài)。每種元素的熒光信號具有特定的能量和波長，通過檢測這些信號，儀器能夠精準(zhǔn)地識別樣品中的元素種類及其含量。
布魯克 XRF 的核心特點(diǎn)
高靈敏度與寬元素覆蓋范圍
檢測范圍從輕元素（鈹 Be）到重元素（镅 Am），可覆蓋周期表的大部分元素。
檢出限低至 ppm 級，適用于微量和痕量分析。
非破壞性分析
無需對樣品進(jìn)行化學(xué)處理，樣品結(jié)構(gòu)和形態(tài)不會受到破壞，適用于貴重樣品的分析。
多元素同時檢測
一次掃描即可同時檢測樣品中多種元素，顯著提升檢測效率。
樣品適配性強(qiáng)
能夠分析固體、粉末、液體和薄膜等多種樣品形態(tài)，無需復(fù)雜的制備步驟。
定量與定性分析功能
可實(shí)現(xiàn)高精度的元素定量分析，同時支持未知樣品的定性篩查。
布魯克 XRF 的技術(shù)優(yōu)勢
HighSense 光路技術(shù)
提升檢測靈敏度和精準(zhǔn)度，尤其是對輕元素（如鋁、鎂）的分析。
XRF2 微區(qū)分析功能
光斑尺寸最小可達(dá) 300 µm，適用于樣品的元素分布研究和缺陷分析。
自動化與智能化操作
直觀的 TouchControl 界面和 EasyLoad 樣品處理系統(tǒng)，支持批量樣品自動化分析。
長壽命與低維護(hù)成本
SampleCare 技術(shù)保護(hù)關(guān)鍵部件免受污染，延長設(shè)備運(yùn)行時間，降低維護(hù)頻率。
布魯克 XRF 的應(yīng)用領(lǐng)域
工業(yè)與質(zhì)量控制
礦物與地質(zhì)：檢測礦石中主量和微量元素的含量。
金屬與合金：分析金屬成分、涂層厚度以及雜質(zhì)。
水泥與化工：控制生產(chǎn)中氧化物和微量元素的精確配比。
科研與材料研究
聚合物與納米材料：分析添加劑及元素分布。
古生物學(xué)與地球科學(xué)：研究化石、巖石等樣品中的微區(qū)元素分布。
環(huán)境與能源
石油化工：分析油品、潤滑劑中的微量元素。
環(huán)保監(jiān)測：快速檢測重金屬污染物。
布魯克 XRF 的常見型號
S8 TIGER
高性能波長色散 XRF（WDXRF），支持精密定量分析和微區(qū)掃描功能。
配備 HighSense 技術(shù)，實(shí)現(xiàn)輕元素高靈敏度檢測。
S2 PUMA
能量色散 XRF（EDXRF），適用于快速、多元素的定量分析，特別適合高通量應(yīng)用。
優(yōu)勢總結(jié)
布魯克 X 射線熒光光譜儀以其高效、精準(zhǔn)、多功能的特點(diǎn)，廣泛應(yīng)用于科學(xué)研究和工業(yè)生產(chǎn)中。其核心優(yōu)勢包括：
廣泛適用性：從輕元素到重元素，從固體到液體樣品，適配性強(qiáng)。
高效檢測：多元素同步分析，降低檢測時間。
高可靠性：長期穩(wěn)定運(yùn)行，減少維護(hù)需求。
布魯克 XRF 是現(xiàn)代實(shí)驗(yàn)室和生產(chǎn)質(zhì)量控制的關(guān)鍵工具，為材料成分分析提供可靠保障。
