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超快瞬態吸收光譜系統-TA100主要技術指標
超快瞬態吸收光譜系統-TA100系統主機
激光器類型 | 800 nm飛秒激光器 | 1030 nm飛秒激光器 |
探測光譜范圍 | 280 - 380 nm | 350 - 500 nm |
320 - 650 nm | 480 - 950 nm | |
420 - 800 nm | 1100 - 1650 nm | |
850 - 1500 nm | — | |
檢測模式 | 透射/反射/背激發 | |
檢測時間窗口 | 8 ns | |
零點前信噪比 | ≤0.1 mOD | |
時間分辨率 | ≤1.5倍飛秒激光脈寬 | |
自動化系統 | 全自動光路切換、自動化光路校準 | |
樣品倉 | 支持溶液、薄膜、粉末樣品 | |
外場調控 | 低溫/高壓/磁場等其他客戶所需條件 | |
軟件 | 數據采集、數據分析擬合等 | |
顯微動力學成像模塊
檢測模式 | 微區光譜采集/寬場TA成像/載流子遷移成像 |
空間分辨率 | ≤1 μm |
光譜探測范圍 | 400-800 nm |
載流子遷移精度 | 100 nm |
納秒TA模塊
光譜探測范圍 | 380-950 nm；1100-1600 nm |
時間窗口 | ≤450 μs（可拓展至ms） |
時間精度 | 1 ns |
其他可拓展 | |
中紅外模塊探測范圍 | 2-12 μm |
TCSPC模塊時間分辨率 | ≤100 ps |
超快熒光模塊時間分辨率 | ≤1.5倍激光脈寬 |
角分辨模塊 | 可拓展角分辨檢測 |
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