當前位置：> 供求商機> CHY-01-塑料薄膜厚度測量儀
CHY-01塑料薄膜厚度測量儀采用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規范性和準確性。專業適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
塑料薄膜厚度測量儀技術特征：
l 嚴格按照標準設計的接觸面積和測量壓力，同時支持各種非標定制;
l 測試過程中測量頭自動升降，有效避免了人為因素造成的系統誤差;
l 測試軟件提供測試結果圖形統計分析，準確直觀地將測試結果展示給用戶；
l 彩色大液晶顯示測試結果，及每次測量值、統計值；
l 配備微型打印機，快速打印每次測量結果及統計大小值、平均值；
l 支持數據實時顯示、自動統計、打印等許多實用功能;
l 配備標準RS232接口，方便系統與電腦的外部連接和數據傳輸；
l 配備專用自動進樣器，可一鍵實現全自動多點測量，人為誤差小（選配）；
測試原理：
測厚儀采用接觸式測試原理，截取一定尺寸試樣，測厚儀測量頭自動降落于試樣之上，依靠固定的壓力和固定的接觸面積下測試出試樣的厚度值。
應用范圍：
適用于5mm范圍內各種薄膜、薄片、隔膜、復合膜、紙張、紙板、玻璃、箔片、硅片、金屬箔片、硬片、紡織材料、固體電絕緣體、無紡布材料等硬質和軟質材料厚度準確測量。分辨率達0.1um，廣泛應用于薄膜、鋁箔生產企業、質檢機構等單位。擴展應用：（需特殊附件或改制）
產品名稱 | 使用范圍 |
薄膜 | 用于薄膜、薄片、電池隔膜、電容薄膜材料等軟質材料厚度測量。 |
鋁箔 | 對金屬箔片、硬片等硬質材料厚度測量。 |
紙張 | 用于各種紙張、紙板材料厚度測試。 |
硅片 | 接觸式測試原理有效的檢測出硅片上每個點的厚度值。 |
該儀器符合多項國家和國際標準：GB/T 6672-2001 、GB/T 451.3-2002、GB/T 6547-1998、ISO 4593-1993、ISO 534-2011、ISO 3034-2011、ASTM D374-1999、ASTM D1777-1996(2007)、JIS K6250-1997、JIS K6783-1994、JIS Z1702-1994、BS 3983-1989 、BS 4817 、TAPPI T411
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