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科學研究和技術開發的進步極大程度地依賴于用以表征材料性能和特性的高效成像解決方案。無論是開發與論證用于描述材料性能和特性的模型，或是簡單地對結構細節信息進行成像，能以三維方式揭示微觀結構的細節是關鍵所在。蔡司三維 X 射線顯微鏡（XRM）：即便是相對較大的樣品，先進的成像解決方案也可以借助高襯度和亞微米分辨率出色地完成三維成像。在無損三維（3D）成像方面取得的這一系列突破性飛躍，大大拓寬了技術學科的研究范圍。

亞微米級三維 X 射線顯微鏡中的 Xradia Versa 系列，在顯微鏡物鏡轉盤中裝配 X 射線探測器用以輕松完成變倍操作，擁有 700nm 的空間分辨率和最小 70nm 的三維像素。Xradia Ultra 納米級 X 射線顯微鏡系列是一款商用化的 X 射線顯微鏡，裝配有可實現同步輻射質量的射線源，并能夠提供<50nm 的真實空間分辨率及最小 16nm 的三維像素。

為向您的 X 射線顯微鏡提供持續的投資保護，蔡司現在驕傲的宣布，我們能夠提供擴展 Versa 和 Ultra 系統功能的升級軟件。