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深圳市京都玉崎電子有限公司

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供應簡介

超高亮度照明裝置表面檢查燈UIH-3D
對對象物（※1）照射高亮度的光的話會發生振打現象，表面的傷和垃圾，內部的異物和氣泡用目視能容易地確認。
※1：半導體晶片、掩模玻璃、硬盤、液晶面板、鏡頭等！

詳細介紹

超高亮度照明裝置表面檢查燈UIH-3D

產品特點介紹：

點火監視裝置（TAM系列）、超高亮度照明裝置（UIH-1、UIH-2、UIH-3）、半導體晶片截面形狀測量裝置（WEMS、VSSW）等測量裝置制造現場。

UIH-1C型規格	采用高亮度鹵素燈（15V 150W）。
UIH-2D型規格	采用高亮度鹵素燈（100V 300W）。配備燈箱異常發熱時自動關閉功能。
UIH-3D型規格	采用高亮度鹵素燈（100V 650W）。配備燈箱異常發熱時自動關閉功能。

UIH-1C型規格

采用高亮度鹵素燈（15V 150W）。

超高亮度照明裝置表面檢查燈UIH-3D

UIH-2D型規格

采用高亮度鹵素燈（100V 300W）。
配備燈箱異常發熱時自動關閉功能。

超高亮度照明裝置表面檢查燈UIH-3D

UIH-3D型規格

采用高亮度鹵素燈（100V 650W）。
配備燈箱異常發熱時自動關閉功能。

UIH-1C型規格

　　　 *1 為了保護燈泡，即使在主電源開關關閉的情況下，仍可通過風扇維持冷卻直至燈室內溫度降至約 40℃ 以下的功能。

UIH-2D型規格

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