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YAMADA山田光學缺陷檢查晶圓鹵素光源裝置
YAMADA山田光學缺陷檢查晶圓鹵素光源裝置
特點：
日本YAMADA山田光學YP-150I鹵素光源裝置
可檢測各種缺陷如半導體晶片芯片和液晶基板的劃痕，不均勻拋光，霧度，表面灰塵，滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上，是一種用于宏觀觀察的照明裝置。
高亮度鹵素射鏡
王工表面檢查燈40WLX強光燈光斑60mm參數：
照射范圍 30mmφ 60mmφ
照度 ≥ 400,000 lｘ ←
照射距離 140mm 220mm
光源 鹵素燈(使用冷鏡) ←
燈型 JCR15V150W ELC24V250W
壽命 5W小時
色溫 3,400K° ←
色調 白 ←
環境溫度 0～40℃ ←
冷卻方式 強制排氣 ←
連接 12φ 20φ
尺寸 100(W)×245(H)×116（D）mm 120(W)×388(H)×130(D)mm
重量 1.7 ㎏(17N) 2.7 ㎏(27N)
輸入電壓 AC100V 50/60Hz AC100V 50/60Hz
功率 200W 350W
變化范圍 AC5～12V AC10～22V
環境溫度 0～40℃ ←
冷卻方式 自然 強制排氣
尺寸 140(W)×94(H)×185(D)mm 135(W)×72(H)×260(D)mm
重量 2.4 ㎏ 2 ㎏
其他 輸入電線 :2m VCTF-電線 0.75sq
(外加一插座)
輸出電線 :2m VCTF-電線 1.25sq
(外加一金屬連接器)
腳踏開關線:3m
(底部金屬連接器) 輸入電線 :2m VCTF-電線 0.75sq
(外加一插座)
輸出電線 :2m VCTF-電線 1.25sq
(外加一金屬連接器)<span none"="">
日本山田光學YP-150I/250I高亮度鹵素射鏡
日本山田光學YP-150I/250I高亮度鹵素射鏡
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