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日立掃描電鏡TM4000PlusII是在 TM4000II 基礎上增加高靈敏度低 真空二次電子探頭 UVD，該探頭在低真空環境下具有 很好的成像質量。

TM4000PlusII 可將二次電子圖像和背散射電子圖像疊 加并實時進行顯示，獲得最多的樣品信息。可選配附 件豐富，擁有諸多附加功能。

日立掃描電鏡TM4000PlusII可觀察大直徑為 80 mm，厚度為 50 mm 的樣品。 設備內置光學相機 ( 選配 )，可輕松尋找目標樣品。  從裝樣到獲取圖像僅需 3 分鐘左右，優化了原來的形 狀觀察、元素分析到報告制作的工作流程。

●  觀察條件： 5kV/1 

0kV/15kV、EDX

●  放大倍率： 10X-100000X

●  即便是絕緣物樣品，也無需預處理，就可直接進行觀察