XF-A5SMC是西凡儀器推出的一款全新升級光路的X射線熒光光譜儀，可廣泛應用于貴金屬產業鏈、電鍍產業鏈、寶石產業鏈等行業。該產品搭載美國AMPTEK定制Si-PIN探測器，配備雙準直器，內置Intel 十核CPU工控電腦，支持Smart FP算法，創新性應用西凡第二代X射線與可見光共焦點垂直光路，其可獲得更小的實際照射焦斑。能夠精準分析貴金屬成分、寶石成分、鍍層厚度和離子濃度等，檢測速度快，測試穩定性好、準確性高，性價比高。
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XF-A5SMC是西凡儀器推出的一款全新升級光路的X射線熒光光譜儀，可廣泛應用于貴金屬產業鏈、電鍍產業鏈、寶石產業鏈等行業。該產品搭載美國AMPTEK定制Si-PIN探測器，配備雙準直器，內置Intel 十核CPU工控電腦，支持Smart FP算法，創新性應用西凡第二代X射線與可見光共焦點垂直光路，其可獲得更小的實際照射焦斑。能夠精準分析貴金屬成分、寶石成分、鍍層厚度和離子濃度等，檢測速度快，測試穩定性好、準確性高，性價比高。
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