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愛安德分享什么是掃描探針顯微鏡 (SPM)？
掃描探針顯微鏡（SPM）是一種使用針尖探針觀察納米尺度表面不規則性的顯微鏡。
常在高真空下使用，以清潔樣品表面，但也可在空氣中使用。最近，還開發出了可用于液體的產品。
掃描探針顯微鏡有許多不同類型，包括掃描隧道顯微鏡（STM）和原子力顯微鏡（AFM）。 STM能夠捕獲單個原子，其發明者因對納米結構科學技術進步做出的巨大貢獻而榮獲1986年諾貝爾物理學獎。
掃描探針顯微鏡可以觀察納米量級的極精細表面，因此用于觀察半導體、玻璃、液晶等的表面狀況和測量粗糙度。
具體觀察對象包括硅單晶的原子排列和有機化合物的苯基。還可以觀察和操作微生物、細菌和生物膜等生物樣品的 DNA。
掃描探針顯微鏡是20世紀80年代開發的新型顯微鏡，但原子水平的觀察技術的發展已是令人矚目的，可以測量摩擦力、粘彈性和表面電位的模型也已開發出來，其應用廣泛迅速擴張。液體測量還應用于電化學和生物化學等領域，使得測量更接近實際環境的條件成為可能。
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