會議伊始，賽默飛材料與結構分析部門半導體業務商業副總裁朱雪雁女士首先發表了開場致詞。她表示，賽默飛作為一家擁有40多年歷史的美國企業，始終秉持著開放、合作的態度，熱情地面向中國企業。我們深知中國市場的重要性，并對其充滿信心。正因如此，賽默飛不斷加大在中國的投資力度，致力于更好地服務本地客戶。今天的活動不僅是提供了一個展示與分享的機會，更是搭建了我們與京東方攜手共創、共同成長的平臺。希望通過更深入的經驗交流，為大家帶來啟發和收獲。
隨后，京東方開發領導也表達了對賽默飛團隊到來的歡迎。他說，多年來，賽默飛憑借先進的設備和優秀的技術支持，為企業在研發和生產過程中提供了重要幫助。同時，京東方也希望通過更多的專業培訓，更充分地挖掘設備的潛力，放大其在生產和研發中的價值。希望未來京東方與賽默飛能加強溝通與交流，攜手攻克技術難題，共同探索創新解決方案。
緊隨其后的是各項報告議程。賽默飛PFA高級業務拓展經理曹瀟瀟首先帶來報告《助力顯示行業失效分析與研發創新——賽默飛PFA解決方案》。報告全面介紹了賽默飛在半導體領域的角色及其全流程解決方案，包括如何通過失效分析（FA）提升良率。展示了在顯示器件分析的應用流程及關鍵產品，如Helios 5 Hydra、Metrios 6等。強調了TEM自動化、精準度及工作流優化如何幫助客戶解決量測難題。報告全面呈現了賽默飛通過技術創新，推動更快的數據處理、更復雜的3D結構問題解決以及更高的生產力，以應對顯示面板行業的技術挑戰。
賽默飛TEM業務拓展經理章春陽和PFA業務拓展經理楊維新攜手帶來了專業報告《探索OLED失效之謎——PFA分析技術與案例研究》。他們的報告聚焦面板行業在研發方面遇到的挑戰，對電子顯微學如何幫助解決面板行業的研發熱點問題進行了深入探討，并結合顯示面板行業常見的失效案例分享，展示賽默飛在物性失效分析的解決方案，如Apreo 2 SEM，Helios 5 系列的Ga+ FIB， PFIB/Hydra和Talos TEM等，詳細講解了這些設備如何幫助客戶解決包括在TFT背板、TFE封裝層、OLED有機發光層、柔性顯示等領域面臨的失效分析問題，幫助推動顯示行業的技術創新及良率提升。
最后，賽默飛EFA高級業務拓展經理唐涌耀為京東方同仁們分享了《電性失效定位在FPD中的應用》。報告中唐經理重點介紹了賽默飛的半導體電性失效分析（EFA）設備在平板顯示（FPD）領域的專業解決方案和技術特點。ELITE設備憑借高靈敏度的鎖相熱成像技術，可快速精準定位IC、FPC線路、觸控面板等模塊的電性失效。其InSb相機具備高分辨率、廣視野和快速成像能力，提升故障定位效率和準確性。Meridian S系統通過EMMI/OBIRCH技術實現精準定位樣品漏電位置。納米探針系統nProber IV采用SEM成像平臺，搭載8根納米探針完成最小單元電性表征和失效分析。
賽默飛的綜合EFA解決方案有效提升了FPD領域的故障診斷效率和成功率。
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