hast高壓加速老化試驗(yàn)箱設(shè)備特點(diǎn)：

1)采用進(jìn)口耐高溫電磁閥雙路結(jié)構(gòu)，降低了使用故障率。

2)獨(dú)立蒸汽發(fā)生室，避免蒸汽直接沖擊產(chǎn)品，以免造成產(chǎn)品局部破壞。

3)門(mén)鎖省力結(jié)構(gòu)，解決第一代產(chǎn)品圓盤(pán)式手柄的鎖緊困難的缺點(diǎn)。

4)試驗(yàn)前排冷空氣；試驗(yàn)中排冷空氣設(shè)計(jì)(試驗(yàn)桶內(nèi)空氣排出)提高壓力穩(wěn)定性、再現(xiàn)性.

5)超長(zhǎng)效實(shí)驗(yàn)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)間，長(zhǎng)時(shí)間實(shí)驗(yàn)機(jī)臺(tái)運(yùn)轉(zhuǎn)400小時(shí).

6)水位保護(hù)，透過(guò)試驗(yàn)室內(nèi)水位Sensor檢知保護(hù).

7)tank耐壓設(shè)計(jì)，箱體耐壓力(150℃)2.65kg，符合水壓測(cè)試6kg.

8)二段式壓力安全保護(hù)裝置，采兩段式結(jié)合控制器與機(jī)械式壓力保護(hù)裝置.

9)安全保護(hù)排壓鈕，警急安全裝置二段式自動(dòng)排壓鈕 .

10)偏壓測(cè)試端子耐壓可達(dá)3000V(選配）

11)USB導(dǎo)出歷史記錄數(shù)據(jù)，曲線.

高壓加速壽命試驗(yàn)箱HAST用途：

加速壽命試驗(yàn)的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷.等)，加快試驗(yàn)過(guò)程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。用于調(diào)查分析何時(shí)出現(xiàn)電子元器件，和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問(wèn)題，使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進(jìn)行的試驗(yàn)。隨著半導(dǎo)體可靠性的提高，目前大多半導(dǎo)體器件能承受長(zhǎng)期的THB試驗(yàn)而不會(huì)產(chǎn)生失效，因此用來(lái)確定成品質(zhì)量的測(cè)試時(shí)間也相應(yīng)增加了許多。為了提高試驗(yàn)效率、減少試驗(yàn)時(shí)間，采用了的壓力蒸煮鍋試驗(yàn)方法。壓力蒸煮鍋試驗(yàn)方法主要分成兩種類(lèi)型：即PCT和USPCT(HAST) 現(xiàn)在壓力蒸煮鍋試驗(yàn)作為濕熱加速試驗(yàn)被IEC(國(guó)際電工委員會(huì))所標(biāo)準(zhǔn)化。 注意事項(xiàng)：USPCT現(xiàn)在稱(chēng)為HAST(高度加速應(yīng)力試驗(yàn))。

高壓加速壽命試驗(yàn)箱HAST試驗(yàn)中，電子元器件通常被放置在密封的試驗(yàn)室中，并通過(guò)電氣連接與測(cè)試設(shè)備相連。試驗(yàn)箱甚至還可能具有震動(dòng)功能，以模擬真實(shí)環(huán)境中的振動(dòng)條件。通過(guò)高壓加速壽命試驗(yàn)箱，可以評(píng)估電子元器件在潮濕環(huán)境下的可靠性和壽命特性，幫助制造商提前發(fā)現(xiàn)潛在的故障和問(wèn)題，從而改進(jìn)產(chǎn)品設(shè)計(jì)和生產(chǎn)工藝。這樣可以減少產(chǎn)品退貨率和維修成本，提高產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性，滿足客戶的需求和期望。